IoT设备的自我测试
版权声明：本文为半吊子子全栈工匠（wireless_com，同公众号)原创文章，未经允许不得转载。 https://blog.csdn.net/wireless_com/article/details/82599371 东西坏了，事情也出了差错。 简单的说就是 XX发生了。 不管用什么词，事实上我们都生活在一个不完美的世界里。 在嵌入式系统中，有很多失败的可能。 在简单的系统中，失败通常导致它们不工作。 在复杂的系统中，失败可能以更微妙的方式表现出来。 嵌入式系统引入了"智能"，所以显而易见的是，这种智能可以用来检测即将发生的问题和已经发生的问题，并可能减轻失败的影响。 这种内置故障控制的通常术语是"自我测试"。这是一个很有可能被许多会议所讨论的大问题，细节可能会写满一本书。 但在这里，只考虑一下关键问题。 从本质上讲，嵌入式系统中有四个可能出现的故障领域: CPU 中央处理器 Peripherals 外围设备 Memory 内存 Software 软件 一个 CPU 的失败是相当罕见的，但是，当然，不是未知的。部分失败是不可能的，所以预期的情况是无法运行代码，所以没机会解决失败。由于...
